品牌：日本JSM-IT300

扫描电子显微镜（SEM）是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。主要技术参数及特点：

1、高效的样品台。

2、EDS一体化 1触（1- tap）式分析

最新电子光学系统实现了低加速电压、低真空模式下的高清图像观察。

3、全新物镜内抽气系统实现了超低真空模式，多用途样品室。

4、支持多种附件。

EDS、双EDS探测器、WDS、EBSD、多个预备接口。

5、直观的触摸屏操作。